লিথিয়াম ব্যাটারি সুরক্ষা বোর্ড সাধারণ খারাপ বিশ্লেষণ

প্রথম, কোন প্রদর্শন, কম আউটপুট ভোল্টেজ, লোড বহন করতে পারবেন না:

যেমন ত্রুটিগুলি প্রথমে খারাপ কোষটি (ব্যাটারিটির কোন ভোল্টেজ বা কম ভোল্টেজ থাকে না), ব্যাটারিটি খারাপ থাকলে, সুরক্ষা বোর্ডের স্ব-ব্যবহার পরীক্ষা করা উচিত কিনা তা যাচাই করার জন্য সুরক্ষা বোর্ডটি খুব বেশি শক্তি এবং ভোল্টেজ ব্যবহার করে ব্যাটারি স্বল্প. যদি সেল ভোল্টেজ স্বাভাবিক থাকে তবে এটি সুরক্ষা বোর্ডের সমগ্র সার্কিটটি অ্যাক্সেসযোগ্য (উপাদান সোলারিং, মিথ্যা সোলারিং, দরিদ্র FUSE, পিসিবি বোর্ডের অভ্যন্তরীণ সার্কিট, গর্ত, মোস, আইসি ক্ষতির মাধ্যমে ইত্যাদি)। নির্দিষ্ট বিশ্লেষণ পদক্ষেপ নিম্নরূপ:

(1) ব্যাটারিটির নেতিবাচক মেরু সংযোগ করতে মাল্টিমিটারের কালো মিটারটি ব্যবহার করুন। লাল পরীক্ষা সীসা উভয় প্রান্তে FUSE এবং R1 প্রতিরোধকগুলিকে সংযুক্ত করা হয়, ভিড, ডাউট, IC এর Cout End এবং P + End (ব্যাটারিটির ভোল্টেজ 3.8 ভি) অনুমান করা হয়। এই পরীক্ষা পয়েন্ট সব 3.8 ভি হতে হবে। যদি না হয়, সার্কিটের এই সেগমেন্টের সাথে একটি সমস্যা আছে।

1. FUSE জুড়ে ভোল্টেজে একটি পরিবর্তন আছে: FUSE চালু আছে কিনা তা পরীক্ষা করুন। এটি চালু থাকলে, পিসিবি বোর্ডের অভ্যন্তরীণ সার্কিট অ্যাক্সেসযোগ্য নয়। যদি এটি চালু না হয় তবে FUSE (খারাপ উপাদান, অত্যধিক ক্ষতি (এমওএস বা আইসি কন্ট্রোল ব্যর্থতা) সঙ্গে একটি সমস্যা রয়েছে, উপাদানটির সাথে একটি সমস্যা রয়েছে (FUSE MOS বা IC অ্যাকশন এর আগে পুড়িয়ে ফেলা হয়), তারপরে তারের সংক্ষিপ্ত করুন FUSE সঙ্গে এবং বিশ্লেষণ অবিরত।

2. R1 প্রতিরোধক জুড়ে ভোল্টেজ পরিবর্তন: R1 এর প্রতিরোধের মান পরীক্ষা করুন। প্রতিরোধের মান অস্বাভাবিক হলে, এটি একটি ভার্চুয়াল ঝাল হতে পারে, এবং প্রতিরোধক নিজেই ভাঙ্গা হয়। প্রতিরোধের মূল্যের মধ্যে কোন অস্বাভাবিকতা নেই, আইসি অভ্যন্তরীণ প্রতিরোধের সঙ্গে একটি সমস্যা হতে পারে।

3. আইসি টেস্ট টার্মিনালের ভোল্টেজে একটি পরিবর্তন রয়েছে: ভিড টার্মিনাল R1 প্রতিরোধকের সাথে সংযুক্ত। অস্বাভাবিক ডাউট এবং Cout IC সিলারিং বা ক্ষতি কারণে হয়।

4. পূর্ববর্তী ভোল্টেজে কোন পরিবর্তন না থাকলে, পরীক্ষা B- এবং P + এর মধ্যে ভোল্টেজ অস্বাভাবিক, কারণ সুরক্ষা প্লেটের ইতিবাচক গর্ত খোলা নেই।

(বি), MOS টিউব সক্রিয় করার পরে, ব্যাটারিটির ইতিবাচক মেরু সংযুক্ত মাল্টিমিটার লাল কলম কালো পরীক্ষা কলমটি এমওএস টিউব ২, 3 ফুট, 6, 7 ফুট, পি-শেষের সাথে সংযুক্ত থাকে।

1. মোস টিউব 2, 3 ফুট, 6 বা 7 পিন ভোল্টেজ পরিবর্তন, এটি MOS টিউব অস্বাভাবিক মানে।

2. যদি মোস টিউব ভোল্টেজ পরিবর্তন না হয়, পি-টার্মিনাল ভোল্টেজ অস্বাভাবিক, কারণ সুরক্ষা বোর্ডের নেতিবাচক গর্ত খোলা হয় না।

দ্বিতীয়, সুরক্ষা ছাড়া সংক্ষিপ্ত বর্তনী:

1. ভিএম শেষ প্রতিরোধকের সাথে একটি সমস্যা রয়েছে: IC2 পিনটি একটি মাল্টিমিটার এবং সংযুক্ত স্টিলাস কলমটি এমওএস টিউব পিনের সাথে সংযুক্ত থাকতে পারে যা প্রতিরোধের মান নিশ্চিত করার জন্য ভিএম শেষ প্রতিরোধকের সাথে সংযুক্ত। প্রতিরোধ এবং আইসি দেখুন, MOS পিন কোন ঝাল যুগ্ম আছে।

2. আইসি, এমওএস অস্বাভাবিকতা: যেহেতু শর্ট-সার্কিট অস্বাভাবিকতা এমওএস-এর সমস্যার কারণে হ'ল বোর্ডের অতিরিক্ত-স্রাব সুরক্ষা এবং ওভার-বর্তমান এবং শর্ট-সার্কিট সুরক্ষা একটি মোস টিউব ভাগ করে, স্রাব সুরক্ষা ফাংশন।

3. উপরের অবস্থাটি স্বাভাবিক অবস্থার অধীনে একটি খারাপ শর্ত, এবং দুর্বল IC এবং MOS কনফিগারেশনের কারণে শর্ট সার্কিট অস্বাভাবিকতা থাকতে পারে। পূর্ববর্তী বি কে -901 অনুসারে, '31২ ডি' মডেলটির বিলম্বের সময় অনেক বেশি ছিল, ফলে আইসিও বা অন্যান্য উপাদানগুলিকে ক্ষতিগ্রস্ত হওয়ার আগে আইসিটি অনুরূপ অ্যাকশন নিয়ন্ত্রণ করে। দ্রষ্টব্য: একটি আইসি বা MOS একটি অস্বাভাবিকতা আছে কিনা তা নির্ধারণ করার জন্য সবচেয়ে সহজ এবং সহজতর উপায় একটি সন্দেহভাজন উপাদান প্রতিস্থাপন করা হয়।

তৃতীয়, শর্ট সার্কিট সুরক্ষা কোন স্ব-পুনরুদ্ধার আছে:

1. নকশাটিতে ব্যবহৃত আইসিটিতে স্ব-পুনরুদ্ধারের কাজ নেই যেমন G2J, G2Z, ইত্যাদি

2. উপকরণ সংক্ষিপ্ত বর্তনী পুনরুদ্ধারের সময় সেট খুব ছোট, বা লোড সার্কিট পরীক্ষা যখন অপসারণ করা হয় না। যদি শর্ট-সার্কিট পরীক্ষা কলমটি মাল্টিমিটার ভোল্টেজ ফাইলের সাথে স্বল্প-সার্কিট হয় তবে পরীক্ষার কলমটি পরীক্ষা শেষ থেকে মুছে ফেলা হয় না (মাল্টিমিটারটি বহু মেগাবাইটের লোডের সমতুল্য)।

3. P + এবং P- এর মধ্যে ফুসকুড়ি, যেমন প্যাডের মধ্যে অমেধ্যতা সহ রোসিন, অমেধ্যগুলি বা P +, P- ক্যাপ্যাসিটরের ভাঙ্গন, আইসি ভিড থেকে Vss এ ভাঙ্গা প্লাস্টিক ভাঙা হয়। (প্রতিরোধের মাত্র কয়েক কে কে কয়েক শত কে)।

4. উপরে কোন সমস্যা নেই, আইসি ভেঙ্গে যেতে পারে এবং আইসি পিনের মধ্যে প্রতিরোধের পরীক্ষা করা যেতে পারে।

চতুর্থ, অভ্যন্তরীণ প্রতিরোধের বড়:

1. এমওএস অভ্যন্তরীণ প্রতিরোধের তুলনামূলকভাবে স্থিতিশীল এবং একটি বড় অভ্যন্তরীণ প্রতিরোধের আছে, সন্দেহ প্রথম জিনিস যে FUSE বা পিটিসি অভ্যন্তরীণ প্রতিরোধের পরিবর্তন তুলনামূলকভাবে সহজ।

2. যদি FUSE বা PTC প্রতিরোধ স্বাভাবিক হয়, সুরক্ষা বোর্ড গঠন P + এবং P-প্যাড এবং উপাদান পৃষ্ঠের মধ্য দিয়ে প্রতিরোধের সনাক্ত করে এবং এর মাধ্যমে সামান্য ভাঙ্গা হতে পারে এবং প্রতিরোধটি বড় হয়।

3. উপরের কোন সমস্যা থাকলে, MOS অস্বাভাবিক কিনা তা সন্দেহ করা দরকার: প্রথমে ঢালাইয়ের সাথে কোন সমস্যা আছে কিনা তা নির্ধারণ করা; দ্বিতীয়ত, কানবানটির পুরুত্ব (এটি বাঁকানো সহজ কিনা), কারণ নমনটি পিনটিকে অস্বাভাবিকভাবে ঢালাইতে পারে; তারপর এমওএস টিউব এটি বিরতি দেখতে মাইক্রোস্কোপ অধীনে এটি রাখুন। অবশেষে, MOS পিনের প্রতিরোধের পরীক্ষা করার জন্য এটি একটি মাল্টিমিটার ব্যবহার করুন যদি এটি ভাঙ্গা হয় কিনা তা দেখতে।

5. আইডি ব্যতিক্রম:

1. আইডি প্রতিরোধক নিজেই সোলারিং, ব্রেকিং বা প্রতিরোধের উপাদান বন্ধ হওয়া অস্বাভাবিক নয়: প্রতিরোধকের দুটি প্রান্ত পুনরায় জেলযুক্ত করা যেতে পারে। যদি পুনরায়-ঢালাইয়ের পরে আইডি স্বাভাবিক থাকে, তবে প্রতিরোধের দুর্বল সোলারিং হয়। এটি ভাঙ্গা হলে, পুনরায় ঢালাই পরে প্রতিরোধক ফাটল করা হবে। খোলা।

2. আইডি মাধ্যমে পরিবাহী নয়: আপনি একটি multimeter সঙ্গে মাধ্যমে উভয় প্রান্ত পরীক্ষা করতে পারেন।

3. অভ্যন্তরীণ সার্কিটের সাথে একটি সমস্যা রয়েছে: অভ্যন্তরীণ সার্কিটটি সংযোগ বিচ্ছিন্ন করা বা স্বল্প-সার্কিট করা হয়েছে কিনা তা দেখার জন্য ঝাল প্রতিরোধী বন্ধ করা যেতে পারে।